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光子集成电路（PIC）是推动通信、光学计算、航空航天、国防和医疗等领域发展的关键技术。测试是控制产品推向市场总成本的关键一环，然而，PIC却独具测试挑战。现代PIC的有效测试需要更全面、更有效的方法，在确保最佳性能的同时降低研发成本。

PIC推动了高速数据中心和5G网络新技术的发展，这主要得益于光收发器和无源器件的飞速发展。5G带来海啸般的数据和高速互联，使得网络元件数量庞大且不断增加。从商业和研究的角度来看，PIC在芯片实验室、激光雷达技术或量子计算等领域得到了广泛的关注与应用。经过改进的PIC测试在下一代网络中会愈发的重要，在网络设计和部署的每个阶段进行测试对于成功非常关键。

LUNA提供高精度、高分辨率和快速测量的完整测试解决方案，定量评估芯片上各个组件的光学性能，无论是在原型设计和开发阶段还是在生产阶段。

LUNA先进的测试系统，能够以微米级空间分辨率以透射模式或反射模式对PIC进行评估，以实现设备的完整光学表征。典型测量内容包括：

• 插损（IL）
  

• 回损（RL）

• 偏振相关损耗（PDL）

• 反射率/传输损耗

• 反射率/透射损耗

• 相位响应

• 群延迟（GD）

• 色散（CD）

• 偏振模色散（PMD）

• 二阶偏振模色散（PMD）

• 偏振引起的最小/最大损耗

• 脉冲响应

• 琼斯矩阵和穆勒矩阵

• 相位纹波-线性和二次型

• 偏振性能

• 偏振串扰

• 偏振度（DOP）、偏振态（SOP）和偏振消光比（PER）
  

LUNA基于光频域反射技术（OFDR）的测试系统，为现代硅光子集成器件提供准确和快速的测试方案。 

10μm空间分辨率的器件光路损耗测试 

LUNA的超高空间分辨率背光反射计，具备背向散射级的探测灵敏度，为光无源器件提供前所未有的分布式损耗分析。 

一台设备即可测试器件的全部光学参数 

LUNA光矢量分析仪（OVA）能够通过对光无源器件的一次扫描测量，即可完成对线性传输矩阵 (琼斯矩阵)、插入损耗 (IL)、群延时（GD）、色散（CD）、偏振模色散（PMD）、偏振相关损耗（PDL）等关键光学参数的测量。

LUNA 6415光器件分析仪 

LUNA 6415是一款同时具备高测量频率和高空间分辨率的背光反射计产品，同时可提供插入损耗（IL）的透射测试和分析模式，是产线检测和品质控制的理想选择。

主要应用包括：

• 生产测试
  

• 质量控制

• 生产问题诊断

• 设计表征与分析

• 验证模型并改进仿真

• 无源光器件和模块：滤波器、PLC、AWG、MUX/DEMUX、分光器、光栅、WSS、ROADMs等
  

示例：平面光波导的表征

平面光波导作为硅光子平台的关键组成部分，对测量方法提出了更高的挑战，包括在单位长度内存在更大的损耗、更高的偏振相关性等等。 

LUNA的扫描激光干涉技术，能够通过对器件的扫描，获得沿器件光路的亚毫米级空间分辨率的损耗测量结果，同时也可获得更全面的其他光学参数指标。比如对波导光栅的测量，我们能够同时获得波导光栅在时域上的端面及尺度特性，以及在频域上的频谱响应特性。 

使用LUNA的分析软件，您可以区分并挑选合适的光栅反射区域，从而可以轻松观察到TM模和TE模在频谱响应中表现出的不同偏振效应。否则，整体频谱响应（如下图中红色曲线所示）将被很强的端面反射造成的频谱响应所充满。

时域响应结果显示，强烈的端面反射和波导光栅反射能够被清晰的区分和呈现。

通过时域响应能够很容易地确定光栅反射峰值，从而可仅对光栅部分进行频谱分析（蓝色曲线）。波导的整体频谱响应如红色曲线所示。

先进的硅光子和PIC测试解决方案 

LUNA先进的光学测量系列产品，具有业界领先的测试动态范围、时域和频谱测试分辨率以及测试速度。